Xstress DR45 X 射线应力分析仪适用于多晶、具有晶体结构的材料，可通过更换 Cr/Cu/Co/Fe 等靶管适配不同材料，测量表层残余应力，同时可测残余奥氏体含量。

可检测材料分类

1.钢铁类（Cr 靶为主）    
碳钢、合金结构钢、高强度钢
轴承钢、弹簧钢、模具钢（H13、Cr12MoV 等）、高速钢
铁素体 / 马氏体 / 奥氏体不锈钢、双相不锈钢
可同时检测残余奥氏体含量

2. 轻有色金属         
铝合金、铝锂合金
镁合金
铜及铜合金（黄铜、青铜）

3.高温特种合金
镍基合金（Inconel 718 等）、钴基合金
粉末冶金高温合金、增材制造金属（3D 打印 H13、Inconel 等）

4.钛及难熔金属
TC4 等各类钛合金（常用 Cu 靶）
硬质合金（WC 硬质合金）
其他晶体材料 多晶陶瓷也可在适配靶材与衍射晶面条件下测试。

❌ 不适合检测          
非晶材料：非晶合金、玻璃、无定形高分子，无晶体衍射峰，无法测量单晶材料（常规应力测试不适用）
晶粒极度粗大、强织构材料（衍射环断续，数据偏差大，需特殊评估）
厚致密镀层、表面存在过厚氧化皮（会干扰衍射信号，需预先处理表面）