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一种连续扫描X射线应力测定的强度校正方法
发布时间:2012-03-26 03:59:49来源:中国科学院金属研究所; 材料疲劳与断裂国家重点实验室; 西安交通大学 副研究员; 沈阳(110015)中国科学院金属研究所浏览:6356次

在常规法X射线应力测定中,对衍射线的强度校正,不论在背底部分,还是在纯衍射线部分,吸收校正是本质的校正。在许多工程测量中,只进行吸收校正,就可以达到足够的准确度,以此为根据,本文提出一种可在连续扫描测量中进行强度校正的方法:利用在透明胶片上预先绘制的吸收曲线来拟合背底,同时进行定峰,采用这种方法可以较好地进行背底扣除,也对纯衍射线的强度做了吸收校正。试验结果说明这种方法是可靠的。
    A set of absorption curves was priorly prepared on transparent films to fit thebackground and peak intensities in continuous scanning X-ray stress measurement. It may bebetter to correct both background and absorption of pure diffraction intensity. Experimentalresults revealed this to be a reliable correction method.

文献名称

一种连续扫描X射线应力测定的强度校正方法

Article Name
英文(英语)翻译

A METHOD FOR CORRECTING INTENSITY IN CONTINUOUS SCANNING X-RAY STRESS MEASUREMENT;

作者

李家宝; 康增桥; 何家文;

Author

LI Jiabao;KANG Zengqiao;HE Jiawen National Laboratory for Fatigue and Fracture of Materials;Institute of Metal Research;Academia Sinica;Shenyang;Xi'an Jiaotong University Correspondent;associate professor;Shenyang 110015;

作者单位
Author Agencies

中国科学院金属研究所; 材料疲劳与断裂国家重点实验室; 西安交通大学 副研究员; 沈阳(110015)中国科学院金属研究所;

文献出处
Article From

金属学报;Acta Metallrugica Sinica;1992 05期;

关键词

X射线衍射; 应力测定; 强度校正; 定峰;

Keywords

X-ray diffraction;stress measurement;intensity correction;peak location

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