X射线衍射法无法有效检测单晶体残余应力，主要受限于其基本原理和单晶体结构特性：

多晶体衍射原理的限制‌
X射线衍射法基于布拉格方程（2dsinθ=nλ），依赖多晶体材料中大量随机取向的晶粒产生衍射峰。通过测量不同ψ角（衍射矢量与试样法线的夹角）的晶面间距变化，计算宏观残余应力。单晶体作为单一晶粒，缺乏多晶体的统计效应，无法通过ψ角旋转获取足够的衍射信息。

单晶体结构导致衍射信息缺失‌

单一取向问题‌：单晶体所有原子排列高度有序，仅特定晶面能在固定角度满足衍射条件。旋转ψ角时，多数位置无衍射信号，无法建立完整的d−sin2ψ 关系曲线（应力计算的核心依据）。
无晶粒统计效应‌：多晶体中微小晶粒的随机取向确保了任意ψ角均有部分晶粒满足衍射。单晶体不具备此特性，导致衍射数据不完备。

织构干扰的极端化影响‌
多晶材料若存在强织构（各ψ角衍射强度差异>3倍），已可能影响测试精度。单晶体作为织构的极端形式（完全单一取向），其衍射强度仅存在于特定角度，完全无法满足各向同性假设。

晶粒尺寸与相干散射要求‌
标准X射线残余应力检测要求晶粒尺寸为10–100 µm，以确保衍射信号的稳定性和重现性。单晶体尺寸通常远超此范围，且缺乏多晶体的相干散射多样性，无法满足检测所需的光斑一致性条件（如移动光斑后衍射峰形需稳定）。

补充说明：X射线法适用的应力类型

X射线衍射法仅对‌第I类宏观残余应力‌敏感（引起晶面间距均匀变化，导致衍射峰位移）。单晶体中存在的第II/III类微观应力（如晶格缺陷导致的局部畸变）虽会引起峰宽化或强度变化，但此类应力无法通过标准宏观应力检测方法量化，需依赖其他技术进行分析。