13581588593
400-8605168-0766
新闻资讯

您现在的位置:首页  >  新闻资讯  >  【Xstress3000残余应力分析仪】如何检测残余奥氏体含量

【Xstress3000残余应力分析仪】如何检测残余奥氏体含量
发布时间:2020-07-03 01:34:01来源:原创浏览:179次

Xstress3000残余应力分析仪如何检测残余奥氏体含量呢?

X射线照射铁素体和奥氏体时都会产生衍射,其衍射峰的强度与各相体积分数成正比,因此Xstress3000残余应力分析仪通过各衍射峰的强度对比可以分析计算出残余奥氏体的百分含量。

Xstress3000残余应力分析仪采用四峰法自动测量残余奥氏体含量,精度优于1%。相比较于传统的金相法等手段,四峰法具有无损、快速和精确等特性。

   铁素体峰

奥氏体峰

 

更多相关信息》》》

奥氏体不锈钢焊接的常见问题

X射线残余应力分析仪满足哪些标准?

焊接残余应力的测量方法、作用及影响,预防措施

齿轮传动有哪些类型

了解一下激光小孔法X射线应力分析仪

什么是残余应力?哪家残余应力分析仪好?

 

Copyright 2019 北京华欧世纪光电技术有限公司版权所有    备案号:京ICP备12008571号-1 京公网安备11010802010815号

技术支持:化工仪器网    管理登录    网站地图

地址:北京市海淀区西三环北路72号世纪经贸大厦B座1808室(100048)    座机:010-88820040/41/42/43-1048    邮箱:volwin@volwin.cn

联系电话:
13581588593

微信服务号