Xstress DR45新一代X射线残余应力分析仪，采用了最新探测器技术，使测量速度更快、精度更高，数据更可靠。分析仪界面直观、简捷，全新支持软件与全新技术相结合，可提高工作效率。

探测器组

• 1D、2D探测器，2个
• 量子效率5keV时，>95%
• 256 x 256像素
• 无暗电流
• 探测器弧45mm；探测器2θ角可调

软件（Xstress Studio）

• 测量控制
• 数据分析
• 测量可视化
• 硬件测量控制
• 硬件操作控制：探测器、直流电机、电源、快门、安全互锁功能、电压和电流等。
• 使用零应力粉末样品进行自动校准，以设置衍射仪与样品间的距离
• 深度分布测量和各种应力分布图测量项目管理
• 材料参数库功能

Xstress DR45用于制造业

• 快速测量，甚至适用于生产领域
• 操作员易于使用的软件
• 可用于频繁测量的模板

Xstress DR45用于实验室

• 可进行多种计算，包括线性和椭圆回归，Dölle-Hauk，应力张量和主应力等功能。峰拟合功能包括互相关，抛物线，高斯，洛伦兹，修改的洛伦兹，中间洛伦兹，皮尔逊VII，伪Vogt，Voigt，质心，居中质心，重心滑动和中弦。
• 可测量不同尺寸和形状的零件的巨大差异
• 轻松快捷地更换X射线管

Xstress DR45现场使用

• 快速组装，可在10分钟内使用
• 衍射仪和Xstress MU的稳健设计
• 可在不平坦的表面上进行测量；用磁脚固定在不同的位置。